Управление качеством

Дефекты в обуви 

В конечном счёте главная цель управления качеством – предотвращение образования дефектов. 

Классификация дефектов по их значимости для обуви: 

Критические –  наиболее сильно выраженные дефекты, выходящие за приделы госта и такая обувь не может быть использована по прямому назначению; 

Крупные – могут  влиять на сокращение срока эксплуатации обуви и ухудшение её внешнего вида. 

Менее крупные  – не влияют на прочность и долговечность  обуви, но в значительной мере сказываются на внешний вид. 

Незначительные – могут быть обнаружены только при обследовании специалиста. 

Основными причинами  возникновения дефектов в обуви  являются: 

Нарушение технологического процесса; 

Применение некачественных основных и вспомогателных материалов; 

Неудовлетворительная  работа оборудования и плохое состояние  оснастки и инструментов; 

Не технологичность  конструкции изделия; 

Нарушение организационного режима; 

Плохое хранение, упаковка и транспортировка готовой  продукции. 

Дефекты в обуви  можно подразделить на: 

Дефекты, возникновение  которых можно ожидаться; 

Дефекты, появление  которых неоправданно. 

Скрытые дефекты  – большей частью критические  и крупные. 

Все не устраненные  дефекты по сути критические. 

Анализ качества выпускаемой обуви должен обеспечивать: 

Выявление соответствия её потребительских свойств, моделей  и фасонов требования населения; 

Определение уровня качества обуви с учётом  лучших отечественных и зарубежных образцов; 

Выявления несоответствия Выпускаемой продукции действующим  странам, техническим условиям, имеющимся  образцам и внутрифабричной технической  документации; 

Установление, помимо данных финишного контроля и актов  рекламации и брака, дефектов в следствии лабораторного анализа; 

Определение наиболее эффективных направление в разработке мероприятий по улучшению качества продукции; 

Техническое и  экономическое обоснование целесообразности разрабатываемых мероприятий по улучшению качества обуви. 

Оценка уровня качества: 

,где 

Кi – показатель уровня качества оцениваемого изделия; 

Qi – характеристика уровня качества оцениваемого изделия; 

Q0 – характеристика  уровня качества эталона. 

Если Кi1, то продукция  соответствует качеству эталона, а  если Кi